Передовые методы ИК-Фурье-спектроскопии для определения характеристик материалов и устройств в средней ИК области
ИК-Фурье-спектроскопия является мощным и широко используемым аналитическим инструментом. Однако не всем известно, что существует несколько передовых методов ИК-Фурье-спектроскопии для детальных оптоэлектронных исследований в средней ИК области (MIR). На основе выбранных примеров мы рассмотрим эти методы и опишем их применения.
Принцип ИК-Фурье-спектроскопии Основным элементом любого ИК-Фурье-спектрометра является интерферометр, измеряющий интерферограмму (автокорреляцию света) в зависимости от разности оптических путей. В современных ИК-Фурье-спектрометрах используются сложные интерферометры с оптимизированной производительностью. Однако основной принцип действия по-прежнему тот же, что и в классическом интерферометре Майкельсона (см. рис. 1), известном из опыта Майкельсона-Морли 1887 года.
- Интерферометр Майкельсона
- Подвижное зеркало – Фиксированное зеркало – Источник – Светоделитель
- Приемник
- Интерферограмма - Интенсивность
Рисунок 1: Классический интерферометр Майкельсона с одним фиксированным зеркалом и одним движущимся зеркалом (сканер) под углом 90°. 2 луча сходятся на приемнике, производя сигнал временной модуляции, который и является интерферограммой.
Основные сведения об ИК-Фурье-спектроскопии:■ Волновое число v в качестве общей спектральной единицы: ν/[см- 1 ] = 10000/(длина волны/[мкм])
■ Спектр = преобразование Фурье интерферограммы: S(ν) = FT (IFG(Δx))
■ Частоты модуляции для непрерывного движения: f
ν*скорость зеркала (MIR: обычно от 100 Гц до нескольких кГц)
■ Производительность и мультиплексное преимущество: в средней и дальней ИК области ИК-Фурье-спектроскопия, как правило, превосходит дисперсионную спектроскопию
ИК-Фурье-спектроскопия фотолюминесценцииУстановка может быть аналогична показанной на рис. 2, или же может быть использован более удобный промышленный модуль фотолюминесценции. В ближней ИК области непрерывное возбуждение и движение зеркала позволяют измерять ФЛ с отличным отношением сигнал-шум.
В средней ИК области тепловое фоновое излучение 300К, как правило, маскирует сигнал ФЛ. Поэтому непрерывное возбуждение и непрерывное движение зеркала часто невозможны.
Решение: Модулированное возбуждение, демодуляция с помощью синхронного усилителя и режима шагового сканирования. Синхронный усилитель отсеивает постоянный тепловой фон и усиливает модулированный сигнал ФЛ (см. рис. 4). Модулированное возбуждение может быть достигнуто с помощью импульсного лазера или путем прерывания лазера непрерывного действия (например, прерывателем, акусто-оптическим модулятором, ячейкой Поккельса и т.д.). Частоты модуляции, как правило, находятся в диапазоне от 100 Гц до нескольких сотен кГц.
Эффективность шагового сканирования при (де-)модуляции с точки зрения удаление теплового фона показана на рис. 5.
- Синхронный усилитель – Частотный генератор – Контроллер ячейки Поккельса
- Ячейка Поккельса
- Двухканальный приемник – Образец
- Схема двухканального приемника
- Выход АС (к синх. усилителю)
- Вход DC (от синх. усилителя)
- Элемент приемника - Предусилитель
Рисунок 4: Один из возможных вариантов установки для ИК-Фурье-спектроскопии фотолюминесценции в средней ИК в режиме шагового сканирования. Возбуждающий лазер в модуле ФЛ модулируется ячейкой Поккельса; сигнал ФЛ демодулируется синхронным усилителем.
- Волновое число, см- 1
- Интенсивность ФЛ (произ. ед.)
- Температурный фон
- (а) Непрерывное сканирование (НС)
- (b) НС, увеличение
- (с) Шаговое сканирование
- (d) Шаговое сканирование
- Энергия, эВ
Рисунок 5 (Shao et al. Review of Scientific Instruments 77, 063104 (2006): При непрерывном сканировании ФЛ HgCdTe в средней ИК области едва ли поддается измерению из-за теплового фона. Шаговое сканирование устраняет тепловой фона и позволяет получать спектры ФЛ со значительно более благоприятным отношением сигнал-шум, даже при комнатной температуре.
ИК-Фурье-спектроскопия спектров лазерного излученияНепрерывное волновое излучение → непрерывное движение зеркала Подключив лазерный луч к порту излучения спектрометра (см. рис. 2), спектр можно регистрировать непосредственно в режиме непрерывного сканирования. Как правило, из-за высокой интенсивности излучения фоновое тепловое излучение 300К не представляет никаких затруднений. В зависимости от типа интерферометра можно добиться спектрального разрешения вплоть до 0.01 нм (несколько мкэВ) и даже меньше (несколько нэВ) и полностью использовать модовую структуру спектра.
- Электроника
- Интерферометр
- Излучение из внешнего источника
- Отсек для приемника
Рисунок 2: Экспериментальная установка для ИК-Фурье лазерной (или фотолюминисцентной спектроскопии.
Импульсное излучение → Режим шагового сканированияПри непрерывном движении зеркала частота повторения лазера, как правило, совпадает с частотами интерферограммы, что приводит к сильным артефактам на целых кратных частотах. Этого можно избежать, если использовать шаговый режим сканирования: зеркало останавливается в каждой точке интерферограммы, где измеряется, по меньшей мере, один переходный процесс. Шаговое сканирование позволяет получить спектр с временным разрешением вплоть до нескольких нс (см. пример на рис. 3). Исключение: если частота повтора лазера значительно выше частот интерферограммы, интегрированный по времени сигнал может быть измерен с помощью непрерывного движения зеркала.
- Y [один канал]
- X [волновое число см-1]
- Z [мкс]
Рисунок 3. Импульсное инфракрасное лазерное излучение, измеренное в режиме шагового сканирования. Спектральное разрешение: 1 см-1 (0.25 ни), разрешение по времени: 10 нс.
Фотомодулированная отражательная ИК-Фурье-спектроскопияИзменение отражательной способности ΔR/R в связи с модулированным лазерным возбуждением дает информацию о зонной структуре → Межзонных переходах, близких к критическим точкам. В материалах матрицы ΔR/R пропорционально 3-й производной диэлектрической функции, но также применимо к гетероструктурам (переходы основных и возбужденных состояний).
Метод измерения: модулированное возбуждение и одновременная двухканальная регистрация (ΔR и R) в режиме шагового сканирования. Более сложная схема может даже поддерживать переход к фотомодулированной пропускаемости или модулированной фотолюминесценции в средней ИК области (см. рис. 6).
- Сканер – Камера спектрометра
- Светоделитель
- Галоген – Глобар
- Приемник 1 – Приемник 2
- Криостат
- Образец
- Лазер – Модулятор – Синх. усилитель – Компьютер – Пост. компонент коэффициента отражения
Рисунок 6 (M. Motyka et al., Appl.Phys.Express 2 (2009): Схема установки для фотомодулированной спектроскопии отражения. С помощью автоматизированных зеркал систему можно переключать в режим фотомодулированной пропускаемости или в режим фотолюминесценции.
Преимущества:■ уже при комнатной температуре фотомодулированная спектроскопия отражения может дать разрешение по энергии, сравнимое с фотолюминесцентной спектроскопией
■ доступ к зонной структуре полупроводников с узкой запрещенной зоной гетероструктур
■ отличное отношение сигнала к шуму (см. рис. 7)
- Волновое число, см-1
- Интенсивность (произ. ед.)
- Энергия, эВ
Рисунок 7 (Shao et al., Appl.Phys.Lett. 95 (2009): Фотомодулированная отражательная спектроскопия HgCdTe, в том числе несколько переходов в критических точках. Сравнение с ФЛ указывает на большую информативность фотомодулированной отражательной спектроскопии.
VERTEX 80/80vВ новой серии вакуумных ИК-Фурье спектрометров VERTEX 80v используется интерферометр UltraScan™ c системой активной компенсации колебаний подвижного зеркала, который обеспечивает максимальное спектральное разрешение. Исключительная точность и чувствительность достигается за счет использования сканирующей системы с пневматическими подшипниками и высококачественных оптических компонентов.
VERTEX 70/70vСерия спектрометров VERTEX 70 открывает широчайшие возможности для решения сложных аналитических и исследовательских задач. Сбор данных осуществляется с помощью двух 24-битных аналого-цифровых преобразователей, которые встроены в предусилитель детектора и работают параллельно. Передовая технология DigiTect предотвращает появление помех и обеспечивает высокое соотношение сигнал/шум.
HT Lab AG — Solutions for every lab © 2011-2017 HT Lab AG Копирование информации запрещено. Все права защищены.